Determinação de estrutura cristalina

Análise cristalográfica de dados de difração de raios X

Os gregos antigos acreditavam que o Krystallos (cristal) se tratava de luz congelada e que era tão rígido que nunca poderia ser derretido. Posteriormente, a cristalografia se tornou uma ciência que estuda a simetria externa para tentar explicar a parte interna dos cristais. William Henry Bragg e William Lawrence Bragg, pai e filho, foram os primeiros a usar a difração de raios X (XRD) para estudar a parte interna dos cristais, mostrando estruturas periódicas de átomos em um cristal.

Hoje em dia, a cristalografia de raios X é usada em muitos campos da química, mineralogia e física. Não apenas no estado chamado cristalino (posição ordenada de íons, átomos ou moléculas), mas também nos estados amorfo e líquido que não têm longa periodicidade.   

Cristalografia é a ciência de base usada para determinação de novas estruturas, quantificação usando, por exemplo, o método Rietveld, dispersão totalanálises de textura etc.

Solução de software XRD da Malvern Panalytical

As etapas necessárias para a análise cristalográfica de dados de difração de pó estão todas inclusas no software HighScore Plus :

  • Pesquisa de picos e ajuste de picos com diferentes funções de perfil simétrico/assimétrico
  • Métodos de espaço reais e recíprocos para indexação
  • Refinamento de células unitárias, incluindo neutralização zero ou deslocamento de amostra
  • Determinação do grupo de espaço com picos indexados, com perfis completos de picos ou com análise de extinção sistemática
  • Ajustes LeBail e Pawley para refinamento de parâmetro de cela
  • Explorador de simetria cobrindo todas as configurações de grupo de espaço padronizadas e não padronizadas
  • Método integrado de inversão de carga para descobrir as posições dos átomos
  • Diferenciação de cálculos Fourier para pesquisar por átomos ausentes
  • Transformação entre grupos de espaço com modificação simultânea da célula e dos dados da estrutura
  • Padronização automática das configurações do grupo de espaço não padronizadas
  • Redução de célula (célula Niggli) e identificação da célula convencional
  • Refinamento da estrutura, incluindo os cálculos de ângulo e distância
  • Possibilidades de delineamento para visualizar a estrutura

Soluções de instrumentação XRD da Malvern Panalytical

A análise cristalográfica precisa de dados de difração da mais alta qualidade. O Empyrean Alpha-1 da Malvern Panalytical, configurado com um monocromador Ge (tipo Johansson), oferece dados de geometria de reflexão Cu ou Co Kα1 Bragg-Brentano perfeitos para determinar a estrutura. Ao usar um monocromador híbrido PreFIX, uma geometria de transmissão de feixe paralelo α1 é criada no Empyrean para transmissão ou trabalho capilar.

Variedades do Empyrean

Variedades do Empyrean

A solução multifuncional para suas necessidades analíticas

Aeris

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O futuro é compacto

Tecnologia
X-ray Diffraction (XRD)