Suportes de amostra
Uma variedade de suportes de amostra estão disponíveis para o SDCOM, permitindo que você processe amostras menores, maiores ou irregulares facilmente.
Capaz de medir cristais a partir de 1 mm de tamanho, o SDCOM usa o método de leitura azimutal para determinar com precisão a orientação completa da cela de cristais únicos em apenas uma rotação de medição, levando apenas alguns segundos. Adequado para pesquisa e controle de qualidade da produção, o versátil e acessível SDCOM se ajusta facilmente em uma grande variedade de etapas de processo de wafer e lingote e não requer resfriamento da água.
Baixar catálogoA medição rápida e precisa da orientação de cristal nunca foi tão acessível: conheça o SDCOM, seu XRD compacto e fácil de usar. O método de leitura azimutal desbloqueia a medição ultrarrápida, com resultados retornados em menos de cinco segundos.
O SDCOM oferece o mais alto nível de precisão de até 0,01o e, com uma grande variedade de suportes de amostras e dispositivos de transferência, incluindo uma opção de marcação para direção lateral do cristal, esse compacto fácil de usar é a solução ideal para muitas aplicações no processamento e pesquisa de wafer.
O método de leitura azimutal requer apenas um círculo de medição para reunir todos os dados necessários para determinar totalmente a orientação, o que proporciona alta precisão a um tempo de medição muito baixo, no intervalo de alguns segundos.
A amostra é girada 360o, com a fonte de raios X e o detector posicionados para atingir um determinado número de reflexões por volta. Essas reflexões permitem que a orientação da cela do cristal seja medida em relação ao eixo de rotação com alta precisão em um curto período.
O SDCOM é leve e compacto, tornando-o facilmente móvel e capaz de caber facilmente em seu processo, seja na pesquisa ou na indústria. O software XRD Suite é poderoso e intuitivo, tornando-o prático e fácil de operar para uma variedade de usuários.
A flexibilidade é fundamental para o SDCOM, que é especialmente claro na variedade de materiais que pode medir. O SDCOM pode medir cristais a partir de 1 mm de tamanho, e exemplos de materiais mensuráveis incluem:
Há também uma variedade de suportes de amostra e dispositivos de transferência que podem expandir ainda mais as possibilidades das aplicações do seu SDCOM, garantindo a compatibilidade com o seu fluxo de trabalho. Também estão disponíveis estágios manuais e motorizados de mapeamento de wafer.
O SDCOM oferece excelente precisão de até 0,01o, dependendo da amostra, e é capaz de medir cristais que variam de 1 mm ou mais em tamanho. Essa precisão é mantida nas velocidades mais altas graças ao método de leitura azimutal, que fornece a caraterização completa da orientação do cristal em uma única rotação de medição. Há também uma opção para incluir uma função de marcação de direção lateral do cristal.
Graças ao manuseio manual e ao design de software intuitivo, o SDCOM é fácil de usar e acessível para uma variedade de tipos de usuários, prático em pesquisa e indústria, onde os níveis de experiência do usuário podem variar.
A ampola de raios X do SDCOM é refrigerada a ar, eliminando a necessidade de resfriamento a água. Graças à eficiência e ao pequeno impacto do SDCOM, seu consumo de energia é reduzido ao mínimo, além dos seus custos operacionais.
Fonte de raio X | Ampola de raios X refrigerada a ar de 30 W, ânodo de Cu |
Detectores | Tecnologia de contador de cintilação |
Suporte de amostra | Mesa giratória precisa, precisão de ajuste de 0,01 °, suportes de amostra personalizados e dispositivos de transferência |
Diâmetro da amostra | Até 2 mm ø, até 200 mm |
Temperatura ambiente | ≤ 30 °C |
Requisitos do PC | Windows 10 ou mais recente. Atualização do .NET Framework, 2 portas Ethernet |
Requisitos de energia | De 100 a 230 V, monofásica, 500 W |
Dimensões | 600 mm (C) x 600 mm (L) x 840 mm (A) |
Peso | cerca de 100 kg |
Certificação | Fabricado de acordo com as diretrizes ISO 9001, em conformidade com a CE |
Todos os parâmetros técnicos estão sujeitos a alterações com base em P&D |
Uma variedade de suportes de amostra estão disponíveis para o SDCOM, permitindo que você processe amostras menores, maiores ou irregulares facilmente.
Integre totalmente seu SDCOM ao seu processo adicionando acessórios de transferência dedicados, incluindo opções para a serra de fio, moagem e muito mais.
Difração de raios X versátil, precisa e rápida em um formato compacto prático. Economia sem comprometer a qualidade.