粒子径、粒子形状およびゼータ電位の測定は、電子工学産業、特にコンピュータ、携帯電話、デジタル家電など、ほとんどの電子機器で使用されている集積回路の原材料の製造過程において重要です。 オーバーサイズの粒子が 1 つあるだけで、ウェハーの損傷や LCD の不良の原因となります。

研究と設計のプロセス全体、また電子部品の製造と品質管理において、マルバーンの分析装置は、マルバーンが持つアプリケーションの知識と組み合わせて、以下のような材料の特性評価をサポートします。

  • 太陽電池製造のためのシリコンとその他のウェハーの研磨に使用される CMP スラリー
  • プリント回路基板に使用されるはんだ粒子およびスクリーン印刷インク
  • PCB および各種ディスプレイ(EL、LCD、LED)に使用される銀、導電性カーボンおよびペースト
  • カラー液晶ディスプレイの色素材料に使用されるナノ粒子

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