SDCOM

超高速かつ高精度: 方位角スキャン方式

方位角スキャン方式では、方位を完全に決定するために必要なすべてのデータを収集するために試料を一回転することだけが必要です。これにより、数秒という非常に短い測定時間で高精度が提供されます。

サンプルを360^o回転させ、X線源と検出器を1回転あたり一定数の反射が得られるように配置します。この反射により、回転軸に対する結晶格子の方位を短時間で高精度に測定することができます。

コンパクトで高い汎用性

SDCOMは軽量かつコンパクトなため、簡単に移動でき、研究や産業など用途に関わらず、プロセスに簡単に適合します。XRD Suiteソフトウェアは効果的かつ直感的で、さまざまなユーザーにとって使いやすく、簡単に操作することができます。

SDCOMの鍵となるのは柔軟性です。これは、SDCOMが測定可能な材料の範囲によりとりわけ明らかです。。SDCOMはサイズ1 mmの結晶から測定でき、次のような材料を測定できます。

• 立方晶、任意の不明な方位: Si、Ge、GaAs、Gap、InP
• 立方晶、特殊な方位: Ag、Au、Ni、Pt、GaSb、InAs、InSb、AlSb、ZnTe、CdTe、SiC₃C、PbS、PbTe、SnTe、MgO、LiF、MgAl₂O₄、SrTiO₃、LaTiO₃
• 正方晶: MgF₂、TiO₂、SrLaAlO₄
• 六方晶と三方晶: SiC 2H、4H、6H、15R、GaN、ZnO、LiNbO₃、SiO₂ (石英)、Al₂O₃ (サファイア)、GaPO₄、La₃Ga₅SiO₁₄
• 斜方晶: Mg₂SiO₄、NdGaO₃ 

また、SDCOMのアプリケーションの可能性を高めることができるさまざまなサンプルホルダと移動用治具も用意されており、ワークフローとの互換性が確保されます。手動および電動ウェハマッピングステージも利用できます。

ユーザーフレンドリーな優れた精度

SDCOMは、サンプルに応じて最大0.01^oの優れた精度を提供し、1 mm以上のサイズの結晶を測定できます。この精度は、方位角スキャン方式によって最高速度でも維持され、1回転の測定で結晶方位の完全な特性評価が可能になります。結晶の側面方位をマーキングする機能を含めるオプションも用意されています。

手動操作と直感的なソフトウェア設計により、SDCOMは使いやすく、さまざまなタイプのユーザーに対応し、ユーザーエクスペリエンスレベルが異なる研究と業界の両方で実用的です。

コスト効率が高い

SDCOMのX線管球は空冷式なので、冷却水は不要です。SDCOMは設置面積が小さく、エネルギー消費が最小限に抑えられ、ランニングコストも最小限に抑えられます。